Spitzenabtastmikroskopie zur Untersuchung von Festkörperoberflächen

Projektleitung und Mitarbeiter

Aldinger, R. (Dipl. Phys.), Bayerbach, M. (Dipl. Phys.), Bertsche, G. (Dipl. Phys.), Beyer, G. (Dipl. Phys.), Clauss, W. (Dr. rer. nat.), Hachmann, M., Herrmann, K.-H. (Prof. Dr. rer. nat.), Mueller, W., Muz, C. (Dipl. Phys.), Kern, D. P. (Prof. Dr. rer. nat.), Kleindiek, S. (Dipl. Phys.), Raible, S. (Dipl. Phys.), Ripper, R., Rummel, A., Schrenk, M., Sterr, J., Strahl, H.

Mittelgeber : DFG

Forschungsbericht : 1994-1996

Tel./ Fax.:

Projektbeschreibung

Ausgehend von einer hier entwickelten, stark miniaturisierten mechanischen Ansteuerung für die Spitzenannäherung wurden Rastertunnelmikroskope (RTM) für Anwendungen unter verschiedenen Umgebungsbedingungen entwickelt. Für die RTM-Abbildung organischer Moleküle auf atomar ebenen Substraten (z. B. HOPG, Gold) wurden neuartige Präparationsverfahren untersucht. Ein weiterer Arbeitsschwerpunkt liegt in der Untersuchung des elektronischen Transportverhaltens von leitenden Festkörpern mit Hilfe der Tunnelspektroskopie. An inhomogenen Metallproben konnten damit Einzelelektronen-Effekte im Ladungstransport über die Vakuumtunnelbarriere bei Temperaturen unterhalb 20 K untersucht werden. Mit Hilfe eines Abstandsmodulationsverfahrens wird die Möglichkeit zu Materialkontrastabbildungen im RTM untersucht. Weiterhin wurde ein Verfahren zur RTM-Untersuchung von Stromfilamenten entwickelt, die beim Tieftemperatur-Stoßionisationsdurchbruch flacher Störstellen in extrinsischen Halbleitern (z. B. Germanium) entstehen. Fortschritte bei der Rasterkraftmikroskopie gelangen durch die Entwicklung eines interferometrischen Detektionssystems.

Publikationen

Kleindiek, S., Herrmann, K.-H.: A miniaturized scanning tunneling microscope with large operation range. Rev. Sci. Instrum. 64, 692 (1993).

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qvf-info@uni-tuebingen.de(qvf-info@uni-tuebingen.de) - Stand: 30.11.96
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